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【阿榕伯胡說科技Ep.85】CPO 、面板級封裝的未來怎麼走?半導體測試從配角變瓶頸:系統級測試測什麼?ft. 曾一士 artwork
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【阿榕伯胡說科技Ep.85】CPO 、面板級封裝的未來怎麼走?半導體測試從配角變瓶頸:系統級測試測什麼?ft. 曾一士

聽天下:天下雜誌Podcast by 天下雜誌

Oct 8, 202651:55Society & Culture

AI 大爆發讓半導體測試業從冷門翻紅,相關個股動輒漲十幾二十倍;CoWoS 先進封裝把多顆 GPU 和 HBM 封在一起,一顆出錯整片報廢,那一片可能比保時捷還貴。 本集邀請致茂電子執行長曾一士,談測試為什麼從「省成本的經濟工具」變成「決定產品能否上市的剛性需求」:系統級測試和一般測試差在哪、AI 晶片為何開始要求零缺陷、Face ID 當年怎麼卡在測試這一關,以及 800V 高壓直流、先進封裝量測、CPO 與面板級封裝這幾個 AI 硬...